Feinste Spuren im Höhenmodell
Eigentlich benutze ich mein Programm Vimage dazu, um aus digitalen Höhenmodellen schöne Landschaftsdarstellungen zu erzeugen. Mit der Zeit hat sich aber ein weit darüber hinaus gehendes Anwendungsgebiet aufgetan: Altwegeforschung und Wegearchäologie.
Vom Institut für Photogrammetrie und Fernerkundung an der TU Dresden erhielt ich freundlicherweise einen Ausschnitt des digitalen Bodenmodells der 2005er Laserscanning-Befliegung der Sächsisch-Böhmischen Schweiz. Die mit Laserscanning gewonnenen Höhenmodelle sind so genau, dass sich nicht nur Berge, Täler und Gebirge abbilden lassen, sondern auch feinste Geländevertiefungen bis in den Zentimeterbereich hinein.
Was man damit anfangen kann? Solche feinen Geländeunterschiede können da herrühren, dass da einmal ein Weg entlanggegangen ist. Wenn ein Weg nicht mehr benutzt wird, wächst er zwar zu, der Reliefabdruck des Weges verschwindet aber nicht völlig. Es ist erstaunlich wie viele Jahre sich so eine Altwegespur erhalten kann.
Hier ein paar Karten vom Großen Winterberg in der Sächsischen Schweiz. Verrückt. Uralte Wegspuren werden sichtbar und beginnen ihre Geschichte zu erzählen.
Originalgenerierung mit 1-Meter-Höhenlinien
(Bild in voller Auflösung)
Originalgenerierung mit 1-Meter-Höhenlinien, kommentiertes Bild
Braun: Rezente Wege, grün: Altwegespuren
(Bild in voller Auflösung)
Ohne Weiteres lassen sich Wegspuren aus Kartierungen von 1780 (Meilenblätter) und 1590 (Öder-Zimmermann) erkennen. Dabei sehen diese Wegspuren durchaus noch sehr „frisch“ aus, so, als ob sie erst kürzlich hinterlassen worden sind. Sie können aber schon mehrere hundert Jahre alt sein.
Ist das nicht ein bisschen verrückt? Wie weit in noch frühere Zeiten mag man mit den Höhenmodellen und Vimage zurückblicken können?
Ich weiß es nicht. Wir stehen erst ganz am Anfang solcher Erkundungen.
Literatur: Geobasisdaten für die Sächsisch-Böhmische Schweiz. Grenzüberschreitende digitale Geländemodelle und digitales Orthobild-Mosaik für die Nationalparkregion. Institut für Photogrammetrie und Fernerkundung. – Dresden: Technische Universität 2005.